Effect of Dielectric Thickness on Resistive Switching Polarity in TiN/Ti/HfO2/Pt Stacks
- Vinuesa, G.
- García, H.
- González, M.B.
- Kalam, K.
- Zabala, M.
- Tarre, A.
- Kukli, K.
- Tamm, A.
- Campabadal, F.
- Jiménez, J.
- Castán, H.
- Dueñas, S.
Revista:
Electronics (Switzerland)
ISSN: 2079-9292
Ano de publicación: 2022
Volume: 11
Número: 3
Tipo: Artigo