Empirical Characterization of ReRAM Devices Using Memory Maps and a Dynamic Route Map
- Picos, R.
- Stavrinides, S.G.
- Chawa, M.M.A.
- Benito, C.
- Dueñas, S.
- Castan, H.
- Hatzikraniotis, E.
- Chua, L.O.
Revista:
Electronics (Switzerland)
ISSN: 2079-9292
Año de publicación: 2022
Volumen: 11
Número: 11
Tipo: Artículo