Guest Editorial: Machine learning applied to quality and security in software systems

  1. Gao, H.
  2. Hussain, W.
  3. Durán Barroso, R.J.
  4. Arshad, J.
  5. Yin, Y.
Revista:
IET Software

ISSN: 1751-8814,  1751-8806

Any de publicació: 2023

Volum: 17

Número: 4

Pàgines: 345-347

Tipus: Editorial

DOI: 10.1049/SFW2.12141 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus