MARÍA HELENA
CASTAN LANASPA
CATEDRATICOS DE UNIVERSIDAD
Thesis
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Caracterizacion en estructuras mos del dañado electrico generado por grabado ionico reactivo 1992
Universidad de Valladolid
Supervised Theses (5)
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Estudio de la conmutación resistiva a partir de la caracterización eléctrica de estructuras mim 2022
Universidad de Valladolid
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Caracterización eléctrica de dispositivos de conmutación resistiva para su aplicación en el ámbito de memorias no volátiles y de circuitos neuromórficos 2021
Universidad de Valladolid
González Ossorio, Óscar
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A dependability-minded approach to video recording by means of virtualization 2017
Universidad de Valladolid
CABEZA RODRIGUEZ, MIGUEL ANGEL
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Caracterización de defectos en materiales semiconductores. Aplicación al estudio de nuevos sustratos de silicio para células solares 2014
Universidad de Valladolid
Pérez, Eduardo
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Caracterización de dieléctricos de alta permitividad para su aplicación en técnologías nanométricas 2011
Universidad de Valladolid
Theses Committees (10)
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Committee Member
Degradación y conducción multifilamentaria en estructuras MIS/MIM basadas en HfO2 2021Universitat Autònoma de Barcelona
MUÑOZ GORRIZ, JORDI
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Committee Member
Growth of high permittivity dielectrics by high pressure sputtering from metallic targets 2016Universidad Complutense de Madrid
PAMPILLON ARCE, Mª ANGELA
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Committee Member
Respuesta infrarroja en silicio mediante implantación iónica de metales en transición 2015Universidad Complutense de Madrid
García Hemme, Eric
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Secretary of the Committee
Estudio de semiconductores y dispositivos optoelectrónicos mediante catodoluminiscencia 2015Universidad de Valladolid
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Committee Member
Estudio, modelado y simulación de memorias RRAM 2015Universidad de Granada
Villena Sánchez, Marco Antonio
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Committee Member
Dieléctricos de alta permitividad para próximas generaciones de circuitos integrados/s: High permitivity dielectrics for next generations of integrated circuit 2013Universidad Complutense de Madrid
FEIJOO GUERRO, PEDRO CARLOS
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Committee Member
Study and Modeling of Multi? Gate Transistors in the Context of CMOS Technology Scaling 2012Universitat Autònoma de Barcelona
Chaves Romero, Ferney Alveiro
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Committee Member
Growth and characterization of high-k dielectrics for field effect devices 2008Universidad Complutense de Madrid
TOLEDANO LUQUE, MARIA
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Committee Member
Fabricación y caracterización de dieléctricos de alta permitividad para su aplicación como aislantes de puerta en dispositivos mis 2004Universidad Complutense de Madrid
SAN ANDRES SERRANO, ENRIQUE
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Secretary of the Committee
Caracterizacion electrica de estructuras mis de nitruro de silicio crecido por ecr-cvd 2000Universidad de Valladolid