Física de la Materia Condensada, Cristalografía y Mineralogía
Departament
Russian Academy of Sciences
Moscú, RusiaPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Russian Academy of Sciences (1)
1998
-
Characterization of the new type of structural defects in Si by the scanning optical and electron beam techniques
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997