Probing resonant tunneling and charge accumulation via capacitance measurements in [111]-oriented InGaAs/GaAs MQW and superlattices

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Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 1996

Volumen: 40

Número: 1-8

Páginas: 591-595

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1101(95)00338-X GOOGLE SCHOLAR