Rie-induced damage in MOS structures

  1. de Dios, A.
  2. Castán, E.
  3. Bailón, L.
  4. Barbolla, J.
  5. Lozano, M.
  6. Lora-Tamayo, E.
Zeitschrift:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1990

Ausgabe: 33

Nummer: 11

Seiten: 1419-1423

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0038-1101(90)90116-V GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus