Rie-induced damage in MOS structures

  1. de Dios, A.
  2. Castán, E.
  3. Bailón, L.
  4. Barbolla, J.
  5. Lozano, M.
  6. Lora-Tamayo, E.
Aldizkaria:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Argitalpen urtea: 1990

Alea: 33

Zenbakia: 11

Orrialdeak: 1419-1423

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0038-1101(90)90116-V GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus