Characterization of the DX centers in AlGaAs:Si by admittance spectroscopy
- Dueñas, S.
- Izpura, I.
- Arias, J.
- Enríquez, L.
- Barbolla, J.
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1991
Volum: 69
Número: 8
Pàgines: 4300-4305
Tipus: Article
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1991
Volum: 69
Número: 8
Pàgines: 4300-4305
Tipus: Article