Raman microprobe: a non-destructive tool for studying local misorientations in GaAs

  1. Jiménez, J.
  2. Martín, E.
  3. Prieto, A.C.
Zeitschrift:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Datum der Publikation: 1991

Ausgabe: 12

Nummer: 3

Seiten: 132-137

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0167-577X(91)90160-8 GOOGLE SCHOLAR

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