Raman microprobe: a non-destructive tool for studying local misorientations in GaAs
ISSN: 0167-577X
Ano de publicación: 1991
Volume: 12
Número: 3
Páxinas: 132-137
Tipo: Artigo
ISSN: 0167-577X
Ano de publicación: 1991
Volume: 12
Número: 3
Páxinas: 132-137
Tipo: Artigo