Raman microprobe: a non-destructive tool for studying local misorientations in GaAs

  1. Jiménez, J.
  2. Martín, E.
  3. Prieto, A.C.
Aldizkaria:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Argitalpen urtea: 1991

Alea: 12

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 132-137

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0167-577X(91)90160-8 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus