Influence of refilling effects on deep-level transient spectroscopy measurements in Se-doped AlxGa1-xAs

  1. Enríquez, L.
  2. Dueñas, S.
  3. Barbolla, J.
  4. Izpura, I.
  5. Muñoz, E.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 1992

Ausgabe: 72

Nummer: 2

Seiten: 525-530

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.351883 GOOGLE SCHOLAR
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