Influence of refilling effects on deep-level transient spectroscopy measurements in Se-doped AlxGa1-xAs

  1. Enríquez, L.
  2. Dueñas, S.
  3. Barbolla, J.
  4. Izpura, I.
  5. Muñoz, E.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 1992

Volume: 72

Número: 2

Páxinas: 525-530

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.351883 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus