Characterisation of semiconductor structures by high resolution X-ray diffraction

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Revista:
Materials Science and Technology (United Kingdom)

ISSN: 1743-2847,  0267-0836

Año de publicación: 1995

Volumen: 11

Número: 1

Páginas: 72-79

Tipo: Artículo

DOI: 10.1179/MST.1995.11.1.72 GOOGLE SCHOLAR
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