Homogeneity of Fe-DOPED InP wafers using optical microprobes

  1. Sanz, L.F.
  2. Gonzalez, M.A.
  3. Avella, M.
  4. Alvarez, A.
  5. Jimenez, J.
  6. Fornari, R.
Liburu bilduma:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

Argitalpen urtea: 1997

Alea: 258-263

Zenbakia: PART 2

Orrialdeak: 825-830

Mota: Artikulua

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.258-263.825 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus