Atomistic modeling of point and extended defects in crystalline materials

  1. Jaraiz, Martin
  2. Pelaz, Lourdes
  3. Rubio, Emiliano
  4. Barbolla, Juan
  5. Gilmer, George H.
  6. Eaglesham, David J.
  7. Gossmann, Hans J.
  8. Poate, John M.
Konferenzberichte:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 532

Seiten: 43-53

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1557/PROC-532-43 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus