Atomistic modeling of point and extended defects in crystalline materials
- Jaraiz, Martin
- Pelaz, Lourdes
- Rubio, Emiliano
- Barbolla, Juan
- Gilmer, George H.
- Eaglesham, David J.
- Gossmann, Hans J.
- Poate, John M.
Actas:
Materials Research Society Symposium - Proceedings
ISSN: 0272-9172
Ano de publicación: 1998
Volume: 532
Páxinas: 43-53
Tipo: Achega congreso
