Atomistic modeling of point and extended defects in crystalline materials

  1. Jaraiz, Martin
  2. Pelaz, Lourdes
  3. Rubio, Emiliano
  4. Barbolla, Juan
  5. Gilmer, George H.
  6. Eaglesham, David J.
  7. Gossmann, Hans J.
  8. Poate, John M.
Actas:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Ano de publicación: 1998

Volume: 532

Páxinas: 43-53

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1557/PROC-532-43 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable