Predictive simulation of advanced nano-CMOS devices based on kMC process simulation
- Mok, K.R.C.
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- Teo, R.S.
- Yeong, S.H.
- Yang, B.
- Jaraiz, M.
- Chu, S.-F.S.
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 54
Nummer: 9
Seiten: 2155-2163
Art: Artikel