Experimental observations of temperature-dependent flat band voltage transients on high-k dielectrics

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2007

Volumen: 47

Número: 4-5 SPEC. ISS.

Páginas: 653-656

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2007.01.080 GOOGLE SCHOLAR
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