Comprehensive model of damage accumulation in silicon
- Mok, K.R.C.
- Benistant, F.
- Jaraiz, M.
- Rubio, J.E.
- Castrillo, P.
- Pinacho, R.
- Srinivasan, M.P.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 2008
Alea: 103
Zenbakia: 1
Mota: Artikulua