Simulation of defects and diffusion phenomena in silicon
- Law, M.E.
- Gilmer, G.H.
- Jaraíz, M.
ISSN: 0883-7694
Argitalpen urtea: 2000
Alea: 25
Zenbakia: 6
Orrialdeak: 45-50
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
MRS Bulletin