A Big Data Architecture for Fault Prognostics of Electronic Devices: Application to Power MOSFETs

  1. Alonso-Gonzalez, C.J.
  2. Pulido, B.
  3. Carton, M.
  4. Bregon, A.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2019

Volumen: 7

Páginas: 102160-102173

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2929111 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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