A new method for temperature mapping on GaAs field effect transistors

  1. Martin, E.
  2. Landesman, J.P.
  3. Braun, P.
  4. Fily, A.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 38

Nummer: 6-8

Seiten: 1245-1250

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0026-2714(98)00095-X GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

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