A new method for temperature mapping on GaAs field effect transistors

  1. Martin, E.
  2. Landesman, J.P.
  3. Braun, P.
  4. Fily, A.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 1998

Alea: 38

Zenbakia: 6-8

Orrialdeak: 1245-1250

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/S0026-2714(98)00095-X GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus