I ON Degradation in Si Devices in Harsh Radiation Environments: Modeling of Damage-Dopant Interactions

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Actas:
Proceedings of the 2018 12th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2018

ISBN: 9781538657799

Año de publicación: 2018

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2018.8596953 GOOGLE SCHOLAR
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