Thermomechanical degradation of single and multiple quantum well AlGaAs/GaAs laser diodes

  1. Souto, J.
  2. Pura, J.L.
  3. Torres, A.
  4. Jiménez, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2017

Volumen: 76-77

Páginas: 588-591

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.07.005 GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor

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