Guest Editorial: Machine learning applied to quality and security in software systems

  1. Gao, H.
  2. Hussain, W.
  3. Durán Barroso, R.J.
  4. Arshad, J.
  5. Yin, Y.
Revista:
IET Software

ISSN: 1751-8814,  1751-8806

Año de publicación: 2023

Volumen: 17

Número: 4

Páginas: 345-347

Tipo: Editorial

DOI: 10.1049/SFW2.12141 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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