JUAN JOSE
BARBOLLA SANCHO
Investigador en el periodo 1983-2005
Instituto de Microelectrónica de Barcelona
Barcelona, EspañaPublicaciones en colaboración con investigadores/as de Instituto de Microelectrónica de Barcelona (3)
1990
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Interface state density measurement in MOS structures by analysis of the thermally stimulated conductance
Solid State Electronics, Vol. 33, Núm. 8, pp. 987-992
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Rie-induced damage in MOS structures
Solid State Electronics, Vol. 33, Núm. 11, pp. 1419-1423
1989
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Constant-capacitance deep-level optical spectroscopy
Solid State Electronics, Vol. 32, Núm. 4, pp. 287-293