Rie-induced damage in MOS structures

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Revista:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 1990

Volumen: 33

Número: 11

Páginas: 1419-1423

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1101(90)90116-V GOOGLE SCHOLAR