Raman microprobe: a non-destructive tool for studying local misorientations in GaAs

  1. Jiménez, J.
  2. Martín, E.
  3. Prieto, A.C.
Revista:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Año de publicación: 1991

Volumen: 12

Número: 3

Páginas: 132-137

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0167-577X(91)90160-8 GOOGLE SCHOLAR

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