Homogeneity of Fe-DOPED InP wafers using optical microprobes
- Sanz, L.F.
- Gonzalez, M.A.
- Avella, M.
- Alvarez, A.
- Jimenez, J.
- Fornari, R.
ISSN: 1662-9752, 0255-5476
Año de publicación: 1997
Volumen: 258-263
Número: PART 2
Páginas: 825-830
Tipo: Artículo
Colección de libros:
Materials Science Forum