MicroRaman study of crystallographic defects in SiC crystals
- Martín, E.
- Jiménez, J.
- Chafai, M.
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 1998
Volum: 42
Número: 12
Pàgines: 2309-2314
Tipus: Article
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 1998
Volum: 42
Número: 12
Pàgines: 2309-2314
Tipus: Article