MicroRaman study of crystallographic defects in SiC crystals
- Martín, E.
- Jiménez, J.
- Chafai, M.
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1998
Volume: 42
Número: 12
Páxinas: 2309-2314
Tipo: Artigo
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1998
Volume: 42
Número: 12
Páxinas: 2309-2314
Tipo: Artigo