MicroRaman study of crystallographic defects in SiC crystals

  1. Martín, E.
  2. Jiménez, J.
  3. Chafai, M.
Aldizkaria:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Argitalpen urtea: 1998

Alea: 42

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 2309-2314

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/S0038-1101(98)00231-7 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus