Atomistic modeling of point and extended defects in crystalline materials

Jaraiz, Martin
Pelaz, Lourdes
Rubio, Emiliano
Barbolla, Juan
Gilmer, George H.
Eaglesham, David J.
Gossmann, Hans J.
Poate, John M.

Actas:

Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 1998

Volumen: 532

Páginas: 43-53

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1557/PROC-532-43 GOOGLE SCHOLAR

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