Electrical study of ScO-based MIS structures using Al and Ti as gate electrodes

  1. Garcia, H.
  2. Castan, H.
  3. Duenas, S.
  4. Bailon, L.
  5. Feijoo, P.C.
  6. Pampillon, M.A.
  7. Andres, E.S.
Actes:
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2013

ISBN: 9781467346689

Any de publicació: 2013

Pàgines: 285-288

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/CDE.2013.6481398 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus