Bragg-Fresnel optics for hard x-ray microscopy: Development of fabrication process and x-ray characterization at the Advanced Photon Source

  1. Li, Y.
  2. Wong, G.C.L.
  3. Safinya, C.R.
  4. Caine, E.
  5. Hu, E.L.
  6. Haeffner, D.
  7. Fernandez, P.
  8. Yun, W.
Revista:
Review of Scientific Instruments

ISSN: 0034-6748

Año de publicación: 1998

Volumen: 69

Número: 8

Páginas: 2844-2848

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1149022 GOOGLE SCHOLAR