MicroRaman study of crystallographic defects in SiC crystals
- Martín, E.
- Jiménez, J.
- Chafai, M.
ISSN: 0038-1101
Año de publicación: 1998
Volumen: 42
Número: 12
Páginas: 2309-2314
Tipo: Artículo
Revista:
Solid-State Electronics