Analysis of grain orientation and intergrain properties by micro-Raman spectroscopy in YBa2Cu3O7-x thin films

  1. Martínez, O.
  2. Jiménez, J.
  3. Chambonnet, D.
  4. Belouet, C.
Zeitschrift:
Journal of Materials Research

ISSN: 0884-2914

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 15

Nummer: 5

Seiten: 1069-1075

Art: Artikel

DOI: 10.1557/JMR.2000.0154 GOOGLE SCHOLAR

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