Analysis of grain orientation and intergrain properties by micro-Raman spectroscopy in YBa2Cu3O7-x thin films

  1. Martínez, O.
  2. Jiménez, J.
  3. Chambonnet, D.
  4. Belouet, C.
Revista:
Journal of Materials Research

ISSN: 0884-2914

Ano de publicación: 2000

Volume: 15

Número: 5

Páxinas: 1069-1075

Tipo: Artigo

DOI: 10.1557/JMR.2000.0154 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus