Analysis and control of the intermediate memory states of RRAM devices by means of admittance parameters

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Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 1089-7550 0021-8979

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 124

Nummer: 15

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.5024836 GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor

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