Analysis of grain orientation and intergrain properties by micro-Raman spectroscopy in YBa2Cu3O7-x thin films

  1. Martínez, O.
  2. Jiménez, J.
  3. Chambonnet, D.
  4. Belouet, C.
Revista:
Journal of Materials Research

ISSN: 0884-2914

Año de publicación: 2000

Volumen: 15

Número: 5

Páginas: 1069-1075

Tipo: Artículo

DOI: 10.1557/JMR.2000.0154 GOOGLE SCHOLAR
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